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LVS-500系列低壓浪涌測試儀
更新時間：2026-05-18
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：LVS-500系列低壓浪涌測試儀，輸出波形符合IEC 61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE標(biāo)準(zhǔn)中描述的浪涌波形，旨在測試設(shè)備在晶圓和封裝級別上的浪涌抗擾性。通過脈沖發(fā)生器，可以輕松確定浪涌應(yīng)力下的EOS故障閾值。
LVS-500系列低壓浪涌測試儀的詳細(xì)資料：
ESDEMC Technology LLC 由 Wei Huang 于 2011 年 3 月在美國密蘇里州羅拉創(chuàng)立。ESDEMC 開發(fā) ESD 和 EMC 解決方案。公司致力于提供創(chuàng)新、先進(jìn)、高質(zhì)量和具有成本效益的解決方案以及一般咨詢、測試服務(wù)和定制項目。產(chǎn)品包括充電設(shè)備模型 (CDM) 系統(tǒng)、電纜放電事件 (CDE) 系統(tǒng)、ESD 模擬器、脈沖衰減器、電流探頭、用于射頻發(fā)射/免疫的 TEM 電池、高壓直流電源、定制的高壓/射頻設(shè)計。ESDEMC Technology 自 2012 年以來一直是 ESD 協(xié)會的企業(yè)會員。
LVS-500系列低壓浪涌測試儀輸出波形符合IEC 61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE標(biāo)準(zhǔn)中描述的浪涌波形，旨在測試設(shè)備在晶圓和封裝級別上的浪涌抗擾性。通過脈沖發(fā)生器，可以輕松確定浪涌應(yīng)力下的EOS故障閾值。
脈沖源設(shè)計和脈沖源傳輸方法確保波形性能直接作用于被測試設(shè)備，而不是在發(fā)生器輸出端?？梢圆蹲讲⒎治雒總€浪涌事件的電流波形，自動化的脈沖故障測量設(shè)置也可幫助完成此過程。此外，還可以捕捉電壓波形，并用于確定保護(hù)結(jié)構(gòu)的開通電平。這些電壓波形還可以作為故障判定的依據(jù)，因為漏電特性在脈沖事件后會發(fā)生變化。
產(chǎn)品特點
● 波形從最小值到最大值干凈且線性
● 隔離的浪涌脈沖電路
● 軟件控制自動測量
● 自動故障檢測，包括直流點檢和靜態(tài)IV測試
產(chǎn)品應(yīng)用
● 測試電源、驅(qū)動PCB、通信系統(tǒng)、LCD顯示面板的浪涌脈沖抗干擾性，符合8/20μs和10/1000μs規(guī)范
● 測試晶圓、封裝和PCB的浪涌/靜電放電（ESD）抗干擾性
LVS-500系列低壓浪涌測試儀產(chǎn)品規(guī)格
| 參數(shù) | LVS-500 | LVS-1000 | LVS-1500 | LVS-2000 | LVS-500 | LVS-1000 | LVS-1500 | LVS-2000 | 單位 |
| -8/20 | -10/1000 | ||||||||
| 輸出電壓@開路負(fù)載 | 1-500 | 1-1000 | 1-1500 | 1-2000 | 1-500 | 1-1000 | 1-1500 | 1-2000 | V |
| 輸出電流@開路負(fù)載 | 0.5-250 | 0.5-500 | 0.5-750 | 0.5-1000 | 0.1-50 | 0.1-100 | 0.1-150 | 0.1-200 | A |
| 輸出精度 | ± 5 % ± 0.1 V | ||||||||
| 輸出電阻 | 2 ± 5% | 10 ± 10% | Ω | ||||||
| 短路電流前沿時間 | 8 ± 30% | 10 (+0, -5) | μs | ||||||
| 短路電流半峰值時間 | 20 ± 20% | 1000 ± 20% | μs | ||||||
| 開路電壓前沿時間 | 1.2 ± 30% | 10 (+0, -5) | μs | ||||||
| 開路電壓分峰值時間 | 50 ± 20% | 1000 (+1000, -0) | μs | ||||||
| 尺寸 | 347 X 300 X 145 | ||||||||
| 重量 | 5 | 6 | 8 | 10 | 5 | 6 | 8 | 10 | kg |
上海正衡電子科技有限公司shzhtech是一家集儀器儀表的代理銷售，測試方案的提供，售前售后的技術(shù)支持與儀器儀表的維修為一體的多元化公司。致力于為相關(guān)領(lǐng)域的客戶提供專業(yè)的完整測試解決方案，技術(shù)培訓(xùn)，維修服務(wù)。
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