電容耦合傳輸線脈沖發(fā)生器（CC-TLP），與標準JS-002 CDM測試儀相比，允許用戶生成具有更高控制和可重復性的類CDM脈沖，這是通過vf-TLP而不是CDM測試儀完成的。 研究設備對CDM壓力的響應只需要CC-TLP探針夾具和vf-TLP設置即可。此應用的典型vf-TLP脈沖設置通常分別為1ns和100ps的脈沖寬度和上升時間。

ESDEMC Technology即將發(fā)布其CC-TLP探測解決方案，作為對現(xiàn)有vf-TLP解決方案的補充。包括特殊軟件支持。 CC-TLP解決方案將為市場提供自動校準和設備探測的選項。也可以使用傾斜調(diào)節(jié)旋鈕和微型定位器手動進行校準和探測，CC-TLP探測頭可以輕松地安裝到微型定位器上。

下圖顯示了ESDEMC的CDM，RP-CCDM和CCTLP之間的瞬態(tài)數(shù)據(jù)比較。

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